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ホーム > ニュース > プレスリリース > NISTのベンダ評価においてNECの顔認証技術で第1位の評価獲得

米国国立標準技術研究所(NIST)のベンダ評価プロジェクトにおいて、
NECの顔認証技術が参加部門の全項目で第1位の評価を獲得

2010年1月20日
日本電気株式会社

NECは、米国国土安全省の委託を受けた国立標準技術研究所(NIST、注1)が実施した「ベンダ評価プロジェクト・静止顔画像部門」において、世界第1位の認証技術を有するとの評価を獲得しました。世界の主要ベンダが参加する中での1位獲得により、NECの顔認証技術の優位性を実証しました。

NECが参加した「静止顔画像部門」は、高画質化が進むデジタルカメラで撮影した顔画像や、IC旅券に格納されることを意識したサイズへ縮小化・圧縮を行った顔画像、また、ホールや廊下など不十分な照明下や屋外など直射日光下を含む厳しい撮影条件での顔画像を対象としています。これらの条件は実際に顔認証技術が利用される場面が想定されており、本プロジェクトでの評価は実運用における高い性能を証明するものとなります。
NECでは今回の評価で、他人許容率(他人が本人と誤認される率)が0.1%の時に本人拒否率(本人が本人と認識されない率)を2~4%(注2)という、参加ベンダのうちトップの認証精度を示し、2位以下を大きく引き離す結果を得ました。

この高い認証率を示したアルゴリズムは、2002年より販売している顔検出/顔照合エンジン「NeoFace」(注3)が採用している多重照合顔検出法(注4)や摂動空間法(注5)に加え、照明や方向など環境によって様々に変化する条件下でも個人の特徴を抽出できる新技術(NEC中央研究所が開発)を用いることで、高い認証精度を達成しています。

NISTによるベンダ評価プロジェクトは、悪質化・広域化・多様化する犯罪に対応するため、技術の研究開発を促進し、その早期実用化を図ることを目的としています。国土安全保障省、司法省、FBI、国防省等も協賛・支援として参画して実施されており、評価結果は世界的に高い注目を集めています。

NECでは、他社に先駆けてバイオメトリクス技術の研究開発に取り組み、指紋認証技術では40年、顔認証技術では20年におよぶ研究開発を重ねてまいりました。NISTの評価において、指紋認証技術では2004年より1位の評価を得ており、今回、顔認証技術においても1位を獲得し、高いバイオメトリクス技術を有することを実証しました。
NECの顔認証技術は、日本市場だけでなく、香港やチリなど多数の国において、警察・司法機関・入国管理機関からアミューズメント施設まで幅広く活用されています。今後、このたびの結果を推進力として、高度な技術に裏付けられたバイオメトリクスソリューションを全世界で販売し、事業を強化してまいります。

尚、今回のNISTによる評価結果は、NISTのホームページをご参照下さい。

評価プロジェクトについて
http://www.nist.gov/itl/iad/ig/mbgc-presentations.cfm

評価結果
http://biometrics.nist.gov/cs_links/face/mbgc/2009/FACE_V2_FINAL.pdf

以上

(注1)

NIST:National Institute of Standards and Technology

(注2)

他人許容率と本人拒否率は相反する関係にある。他人許容率を0.1%という高い認証精度を実現する場合、本人拒否率を2~4%に保つことは大変難しい。

(注3)

「NeoFace」の詳細

(注4)

多重照合顔検出法:高速に「目」を検出し、当社独自の高精度なアルゴリズムを組み合わせ、高速処理と高精度の両方を同時に実現する手法。

(注5)

摂動空間法:1枚の登録用顔画像から、顔の向きや影の変化などによる見た目の変動を推測し、この推測した変動を線形部分空間(数学モデル)を使い近似することで、高速な処理と変動に対する高い耐性の両方を同時に実現する手法。

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本件に関するお客様からの問い合わせ先

第二官公ソリューション事業部
バイオメトリクス製品・ソリューションライン
電話:03-3798-4683
Eメール: contact-bio@bio.jp.nec.com

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