磁界・電流測定システム
磁界プローブ法による非接触電流測定システム
特長
キットモジュール妨害波測定において、今まで測定方法に課題の多かった半導体や、高密度実装プリント基板、部品、モジュールなどのノイズ測定にご利用できます。
- IEC規格（IEC61967-6）やキットモジュール妨害波測定技術に適合
- 半導体、高密度実装プリント基板、部品、モジュールなどのノイズ測定
- 計測ソフトウェアは、磁界・電流校正ライブラリ及び測定結果分析、規格判定機能を標準装備し、変換・分析はクリック操作
用途
電磁妨害（EMI）測定を必要とされる、下記業種へおすすめいたします。
- EMI対策技術者／関連部門／研究・教育機関（大学、専門学校他）
- 電子機器設計／製造業者
- PCB設計／製造業者
測定結果サンプル
システム構成
磁界・電流測定システムのシステム構成は、お客様の環境によって変わります。
測定システムの構築につきましては、お問い合わせボタンよりお問合せください。
- 磁界・電流測定システム（SW-EF）
- スペクトラムアナライザ対応ドライバ（DV-SW）
- 磁界プローブ（CP-1S、CP-2S、MP-10L）
- 2重シールドケーブル（2ｍ）
- プリアンプ （※1）
- 磁界プローブ固定軸及び定盤
- スペクトラムアナライザ
- GPIB I/F(PCMCIA/USB/PCI） （※2）
- ノートパソコン （※3）
※1 信号線等、微弱電流の場合はプリアンプ（接続ケーブル含む）が必要となります。
※2 ノートパソコンの各OSに対応したナショナルインスツルメンツ社のGB-IBカード（接続ケーブル含む）が必要となります。
※3 本ソフトウェアはノートパソコン専用です。
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